创造、创新、创业
Creation, innovation and Entrepreneurship
科学研究学术报告通知—龚政
分类：院内新闻 作者：mj 来源： 时间：2011-04-11 访问量：
报告题目：Failure Analysis in High-Tech Industry
报告 人：龚政 (Jane Gong)
时 间：4月21日（周四）下午2：30
地 点：电子信息学院学术报告厅
内容简介：In today’s competitive high technology industry, failure analysis and prevention are important functions to all of the engineering disciplines. Failure analysis of electronics requires specialized equipment and knowledge of cause and effect relationships to discover how and why failures occur. Performing the correct tests in the proper sequence is critical to determine the cause of a failure without removing vital evidence. Failure analysis conclusions should include objective recommendations for corrective actions. A closed-loop corrective action is taking on an increasingly important role as companies strive to achieve a world-class leadership position in their industry.
报告人简介：
教育背景 | 2002–2007年University of South Carolina 博士 电子工程 论文：深紫外发光二级管的失效原理及可靠性分析 研究方向：失效分析，发光二级管，材料检测 指导教师：Asif Khan教授，IEEE院士 2001–2002年 新加坡国立大学和麻省理工学院联合 硕士 微纳米先进材料 论文：半导体中防扩散薄膜TaN的优化 1997–2001年 上海交通大学 学士 材料科学与工程 |
工作简历 | 2008年至今 美国西部数据公司研发中心 圣何塞，加州 主任工程师，资深主任工程师 2007-2008年 奇梦达美国分公司 里士满, 弗及尼亚 产品可靠性工程师 2002-2007年 University of South Carolina 哥伦比亚，南卡罗来那 助理研究员 |
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